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    • 薄膜測厚儀
      薄膜測厚儀

      更新時間:2021-07-08

      型號:

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      薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環境使用;可與大行程工件臺配合,實現大面積膜厚自動測量。
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